Home >  Term: scanning electron mikroskop (SEM)
scanning electron mikroskop (SEM)

En elektron-beam-baserede mikroskop bruges til at undersøge i et tre dimensionalt skærmbillede, overfladen struktur af rede enheder.

0 0

Penulis

  • Marius
  • (Arhus, Denmark)

  •  (V.I.P) 60104 poin
  • 100% positive feedback
© 2025 CSOFT International, Ltd.