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microscopia a forza atomica (AFM)
Un tipo molto ad alta risoluzione di microscopia con risoluzione delle frazioni di un nanometro (un nanometro = un miliardesimo di metro); chiamato anche "scanning force microscopy (SFM)".
- Jenis Kata: noun
- Industri / Domain: Lingkungan alamiah
- Kategori: Terumbu karang
- Organization: NOAA
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Penulis
- Margherita
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