Home > Term: סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
מבוסס על קרן אלקטרונים מיקרוסקופ המשמש כדי לבדוק, בתמונה שלושה מסך תלת-מימדיים, מבנה פני השטח ולכן מוכן.
- Jenis Kata: noun
- Industri / Domain: Bioteknologi
- Kategori: Genetic engineering
- Organization: FAO
0
Penulis
- Sarah Cohen
-
(V.I.P) 33583 poin - 100% positive feedback
(Haifa, Israel)
