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走査型電子顕微鏡（SEM）
集束電子ビームは、オブジェクト全体の移動とブラウン管で三次元画像を形成するために収集されるオブジェクトによって散乱された電子の電子顕微鏡。
- Jenis Kata: noun
- Industri / Domain: Pertanian
- Kategori: Sains nasi
- Company: IRRI
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Penulis
- Sakura08
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